YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
作者:标准资料网 时间:2024-05-24 07:39:36 浏览:9568
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基本信息
| 标准名称： | 工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 |
| 英文名称： | Chemical analysis emthods of gallium for industrial use--Determination of impurity elements--Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method |
| 中标分类： | 冶金 >> 金属化学分析方法 >> 轻金属及其合金分析方法 |
| ICS分类： | 冶金 >> 有色金属 >> 其他有色金属及其合金 |
| 发布部门： | 国家发展和改革委员会 |
| 发布日期： | 2008-03-12 |
| 实施日期： | 2008-09-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 提出单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国铝业股份有限公司河南分公司;中国有色金属工业标准计量质量研究所 |
| 起草人： | 梁倩、王书勤、王晓雯、张予秋、张新宇 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2008-05-01 |
| 页数： | 8页 |
| 书号： | 155066·2-18701 |
适用范围
本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
本标准适用于工业镓[99.9%≤ω(%)≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
前言
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目录
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引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
ＧＢ／Ｔ６０２—２００２ 化学试剂 杂质测定用标准溶液的制备
所属分类： 冶金 金属化学分析方法 轻金属及其合金分析方法 冶金 有色金属 其他有色金属及其合金
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